关于ORT
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下一篇 2008-03-10 20:23:22
/ 个人分类：IC测试相关
今天接触到了ORT, 不知何意?
上网查询之后知: Operation Reliability Testing 或者On-going Reliability Testing
是和IC的可靠性相关.
IC的可靠性一直是一个很深奥, 一般在设计人员很难debug的问题. 涉及到设计人员对后端, 对器件, 对layout特性的感觉.
ESD/Latch等知识和器件物理都必须知道.
ORT测试我感觉就像OTL测试一样, 来测试IC到底能够正常工作多久.
以前只了解OLT, 就是加速老化测试IC的寿命, 保证卖出去客户不会用了一两个月之后一起回来找你算账.
这些东西对于商业化的IC公司都相当重要. 在国内公司可能重视度不够, 特别是研究所项目. 不过一般研究所项目不在乎芯片的面积, 所以面积大, OTL之类的问题ESD/Latchup的问题一般都少一些, 但是没办法商业化. 成本控制不好.
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